原子力顯微鏡在使用探針時的注意事項主要包括以下幾點：

探針的選擇與安裝：

根據(jù)實驗需求和樣品特性選擇合適的探針。探針通常由硅或碳纖維制成，具有不同的形狀和尺寸，以滿足不同解析度和測量目標的需求。

安裝探針時，需輕輕地將探針夾安裝在掃描器底部，切勿過度用力。在掃描管底部施加過大的力可能會損壞掃描器。

探針的維護與更換：

每次更換探針或樣品時，需將掃描器抬高到安全位置，并避免在XY方向移動樣品臺，以防撞到掃描器。

熟練掌握探針的應用規(guī)則，以免操作不當影響探針壽命。

探針在使用后可能受到污染或損壞，需定期檢查和更換，以確保實驗結果的準確性。

操作過程中的注意事項：

在開始掃描之前，確保探針與樣品之間的間距適當，并通過調整儀器參數(shù)（如電壓和掃描速度）來獲得Z佳成像效果。

在掃描過程中，通過操縱機械臂將探針移至待測區(qū)域，并使其與樣品輕輕接觸。避免過大的掃描力對樣品產(chǎn)生壓力，導致形貌變形。

根據(jù)具體需要選擇合適的掃描模式，如接觸式模式、非接觸式模式或接近力模式。

環(huán)境要求：

保持實驗室的整潔和安靜，以降低外界震動和顆粒對觀察結果的影響。

防止粉塵和霉菌的侵入，使用干燥劑和過濾器來控制濕度和空氣質量。

保持溫度穩(wěn)定，以避免樣品的漂移和扭曲。

數(shù)據(jù)記錄與處理：

在完成掃描之后，及時關閉設備并保存數(shù)據(jù)。對于進一步分析或處理數(shù)據(jù)，可以使用專門軟件進行操作。

正確地解讀和分析數(shù)據(jù)是保證結果準確性的關鍵環(huán)節(jié)，需要對圖像進行基本的數(shù)據(jù)處理，如去除噪聲、平滑圖像以提高清晰度。

綜上所述，使用AFM原子力顯微鏡時，在探針的選擇、安裝、維護、更換以及操作過程中都需嚴格遵守注意事項，以確保實驗結果的準確性和可靠性。