AFM原子力顯微鏡的制樣流程介紹

 新聞資訊     |      2025-02-28 09:53:38

原子力顯微鏡的制樣流程對于確保測試的準確性和可靠性至關重要。以下是一個詳細的制樣流程介紹:

一、樣品準備

選擇基底:

根據樣品的性質選擇合適的基底,如云母片、硅片、玻璃片等。

云母片使用時需確保其新鮮,可通過撕掉*上層的方式獲取。

硅片使用前需進行清洗,以去除表面的雜質和污染物。

原子力顯微鏡.jpg

粉末樣品制樣:

將粉末樣品加入溶劑中(如超純水或乙醇),濃度控制在一定范圍內(如40mg/ml以下)。

使用超聲分散儀將粉末均勻分散在溶劑中。

取一滴分散液滴在選定的基底上,然后用氮氣吹掃或使用其他方法使樣品干燥。

薄膜樣品制樣:

根據實驗需求制備薄膜樣品,并確保薄膜與基底的結合牢固。

在測試薄膜厚度時,應預先制作出薄膜和基底的清晰臺階。

塊體樣品制樣:

清潔樣品表面,去除表面的雜質和污染物。

根據樣品尺寸選擇合適的固定方式,如使用雙面膠、導電膠等將其固定在樣品臺上。

生物樣品制樣:

將生物樣品分散在適當的溶劑中,然后滴加到基底上。

根據需要,可以使用特定的吸附固定方式,如加入二價陽離子以增強DNA與基底間的相互作用力。

二、樣品固定

平整固定:

確保樣品平整地固定在基底表面,以防止掃描過程中樣品發(fā)生移動或變形。

使用雙面膠、導電膠等固定方式時,應確保固定牢固且不會對樣品造成損傷。

特殊固定:

對于某些特殊樣品,如帶電荷的樣品,可以使用靜電力等加強樣品的固定。

根據樣品性質選擇合適的固定方法和條件。

三、樣品清洗與干燥

清洗:

在必要時,使用適當的溶劑和清洗步驟去除樣品表面的雜質和污染物。

清洗過程中應注意避免對樣品造成損傷或改變其性質。

干燥:

使用氮氣吹掃、自然風干等方法使樣品干燥。

干燥過程中應確保樣品表面無殘留溶劑或水分。

四、注意事項

樣品尺寸與形狀:

確保樣品尺寸符合AFM原子力顯微鏡的測試要求,如長寬在0.5-3cm之間,厚度在0.1-1cm之間等。

樣品表面應平整且粗糙度不超過一定范圍(如5um以下)。

樣品保存與運輸:

在制樣完成后,應妥善保存樣品以防止其受到污染或損傷。

在運輸過程中,應采取適當的保護措施以確保樣品的完整性和穩(wěn)定性。

測試前檢查:

在進行原子力顯微鏡測試前,應對樣品進行仔細檢查以確保其符合測試要求。

如發(fā)現(xiàn)樣品存在問題或不符合要求,應及時進行處理或更換。

綜上所述,AFM原子力顯微鏡的制樣流程包括樣品準備、樣品固定、樣品清洗與干燥以及注意事項等多個方面。在制樣過程中應嚴格按照流程操作,并注意控制各種因素以確保測試的準確性和可靠性。