隨著原子力顯微鏡的使用率越來(lái)越高，AFM原子力顯微鏡的很多問(wèn)題也出來(lái)了，下面小編給大家分享幾個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題以及解答方案：

1、為什么原子力顯微鏡測(cè)試樣品顆?；蛘弑砻娲植诙炔荒苓^(guò)大？

一般來(lái)說(shuō)AFM原子力顯微鏡儀器測(cè)試的Z相范圍是10um左右（有些儀器可能只有2um），因此樣品表面起伏過(guò)大的樣品可能會(huì)超出儀器掃描范圍，另外粗糙度比較大的樣品會(huì)導(dǎo)致針尖易磨鈍或者受污染，對(duì)圖像質(zhì)量有很大影響，且磨損無(wú)法修復(fù)增加耗材成本。

2、原子力顯微鏡拍攝不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度與自己預(yù)期不符合？

AFM原子力顯微鏡拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝，同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致，因?yàn)樵恿︼@微鏡成像范圍較小，與拍攝樣品表面是否均勻息息相關(guān)。

3、什么是相圖？如何分析相圖？         

作為輕敲模式的一項(xiàng)重要的擴(kuò)展技術(shù)，相位模式是通過(guò)檢測(cè)驅(qū)動(dòng)微懸臂探針振動(dòng)的信號(hào)源的相位角與微懸臂探針實(shí)際振動(dòng)的相位角之差（即兩者的相移）的變化來(lái)成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)，模量等。因此利用相位模式，可以在納米尺度上獲得樣品表面局域性質(zhì)的豐富信息。值得注意的是，相移模式作為輕敲模式一項(xiàng)重要的擴(kuò)展技術(shù)，雖然很有用。但單單是分析相位模式得到的圖像是沒(méi)有意義的，B須和形貌圖相結(jié)合，比較分析兩個(gè)圖像才能得到你需要的信息。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，如果兩種材料從原子力顯微鏡形貌上來(lái)說(shuō)，對(duì)比度比較小，但又非常想說(shuō)明這是在什么膜上長(zhǎng)的另外一種，這個(gè)時(shí)候可以利用二維形貌圖+相圖來(lái)說(shuō)明（前提是兩種材料的物理特性較為不同，相圖有明顯對(duì)比信號(hào)才行）。

4、樣品導(dǎo)電性不好能測(cè)AFM原子力顯微鏡嗎？需要噴金處理嗎？

原子力顯微鏡常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)樣品的導(dǎo)電性沒(méi)有要求，不導(dǎo)電的樣品也是可以測(cè)試的，不需要做噴金處理，但是部分電學(xué)模塊的測(cè)試，比如KPFM，是需要樣品導(dǎo)電的，金顆粒是有一定尺寸的，噴金后可能會(huì)在形貌上有影響，因此一般不建議噴金處理。