原子力顯微鏡afm是利用探針與被測(cè)試樣品之間的弱相互作用來(lái)獲得材料表面形貌的信息，除了物理、化學(xué)和生物等領(lǐng)域外，原子力顯微鏡已廣泛應(yīng)用于微電子學(xué)、微機(jī)械、新材料和醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。

1.高空間分辨率

原子力顯微鏡afm的威力遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于以往任何一種顯微鏡: 光學(xué)顯微鏡的威力一般不到1000倍，電子顯微鏡的威力是10 ^ 6倍，原子力顯微鏡的放大倍數(shù)可達(dá)10 ^ 10倍，比電子顯微鏡的威力高出10 ^ 4倍。高分辨率使得原子力顯微鏡afm能夠直接觀察到物質(zhì)的分子和原子，這為進(jìn)一步探索微觀世界提供了理想的工具。

2. 簡(jiǎn)單的樣品制備過(guò)程

在生命科學(xué)研究領(lǐng)域，各種顯微鏡觀察到的樣品都有不同的要求：電子顯微鏡的樣品要固定、脫水、包埋、切片、染色等。

原子力顯微鏡掃描樣品時(shí)，通過(guò)傳感器檢測(cè)這些變化可以得到力的分布，從而得到具有納米分辨率的表面結(jié)構(gòu)。它包括一個(gè)帶針尖的微懸臂梁、一個(gè)微懸臂動(dòng)作感應(yīng)裝置、一個(gè)監(jiān)控其運(yùn)動(dòng)的反饋回路、一個(gè)掃描樣品的壓電陶瓷裝置和一個(gè)計(jì)算機(jī)控制的圖像采集、顯示和處理系統(tǒng)。微懸臂梁的運(yùn)動(dòng)可以通過(guò)隧道電流檢測(cè)或光學(xué)方法如光束偏轉(zhuǎn)和干涉來(lái)檢測(cè)，斥力可以檢測(cè)到原子級(jí)別的表面分辨率，一般在納米級(jí)別。原子力顯微鏡對(duì)樣品沒(méi)有特殊要求，可用于測(cè)量固體表面和吸附系統(tǒng)。