接觸模式：

接觸模式是原子力顯微鏡Z直接的成像模式，探針針尖始終與樣品表面保持緊密接觸，而相互作用力是排斥力，掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結(jié)構(gòu)，因此力的大小范圍在10-10～10-6 N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，便不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。但是垂直方向上有明顯變化的質(zhì)硬樣品，有時卻更適于用接觸模式掃描成像。

優(yōu)點：

掃描速度快，是接觸模式、非接觸模式、輕敲模式三種模式中**能獲得原子級分辨率的模式。

缺點：

針尖易受損，樣品易變形，圖像扭曲。

操作要點：

過大的作用力會損壞樣品表面，但較大的的作用力通?？傻玫捷^佳的解析度。因此選擇適當(dāng)?shù)牡淖饔昧?，接觸式的操作模式是十分重要的。

非接觸模式：

為了解決接觸模式可能損壞樣品的缺點而發(fā)展來，利用原子間的長距離吸引力『范德華力』來運作，非接觸模式探測試樣表面時懸臂在距離試樣表面上方5～10nm的距離處振蕩，通常為10-12 N，樣品不會被破壞，而且針尖也不會被污染，特別適合于研究柔嫩物體的表面。

優(yōu)點：

對樣品完全沒有損傷。

缺點：

分辨率低，掃描速度慢，不適用于液體中成像。

操作要點：

在大氣中操作時，試片表面常會吸附一層水，所以在討論探針和試片交互作用時，必須考慮探針與試片表面水膜間的毛細孔現(xiàn)象。

輕敲模式：

將非接觸式加以改良，其原理是將探針與樣品距離加近，然后增大振幅，使探針在振盪至波谷時接觸樣品，由于樣品的表面高低起伏，使得振幅改變，再利用類似非接觸式的迴饋控制方式，便能取得高度影像。因此當(dāng)檢測柔嫩的樣品時，AFM原子力顯微鏡的輕敲模式是Z好的選擇之一。

優(yōu)點：

很好地消除了橫向力的影響，降低了由吸附液層引起的力，圖像分辨率高，適于觀測軟、易碎或膠黏性樣品，不會損傷其表面。

缺點：

掃描速度慢。