常用測量薄膜厚度的方法較多,可以分為光學方法和非光學方法。非光學方法包括臺階儀法、afm原子力顯微鏡劃痕法等。

通過下面介紹讀懂afm原子力顯微鏡在電池/微觀形態(tài)/晶體結構的應用

原子力顯微鏡為掃描探針顯微鏡家族的一員，具有納米級的分辨能力，其操作容易簡便，是目前研究納米科技和材料分析的很重要的工具之一。

?原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，現已廣泛應用于半導體、納米功能材料、化工、生物研究和科研院所各種納···

afm原子力顯微鏡在生物膜相互作用實驗中的應用

afm原子力顯微鏡應用于傳統(tǒng)中藥飲片產地鑒定中質地的定量化指標介紹