原子力顯微鏡實際上就是通過原子之間的細微作用力來進行基本成像。原子力顯微鏡AFM可以合理的把納米級探針適當(dāng)?shù)墓潭ㄔ趯τ诹Ρ容^敏感的、容易操控的彈···

原子力顯微鏡AFM是利用檢測樣品表面與細微的探針針尖之間的相互作用力（原子力）測出表面的形貌。探針尖尖在小的軔性的懸臂上，當(dāng)探針接觸到樣品表面時···

原子力顯微鏡的探針長度只有幾微米長，一般由懸臂梁和針尖組成，主要原理是將原子力介于針尖和試驗樣品之間，使懸臂光束產(chǎn)生精細位移來測量表面結(jié)構(gòu)的···

自1986年研制成功這種新型顯微鏡以來，原子力顯微鏡已在材料學(xué)、分子生物學(xué)、細胞生物學(xué)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。

原子力顯微鏡AFM是由IBM公司的Binnig與史丹佛大學(xué)的Quate于1985年所發(fā)明的，其目的是為了使非導(dǎo)體物品也可以在顯微鏡下進行觀測。

原子力顯微鏡共有三種不同的工作模式，接觸模式，非接觸模式，以及共振模式或者輕敲模式。今天原子力顯微鏡廠家的小編主要為大家介紹下接觸模式。