原子力顯微鏡是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作···

原子力顯微鏡（AFM）是利用檢測(cè)樣品表面與細(xì)微的探針針尖之間的相互作用力（原子力）測(cè)出表面的形貌。探針尖尖在小的軔性的懸臂上，當(dāng)探針接觸到樣品表···

使用原子力顯微鏡可以監(jiān)測(cè)分子束外延后CdTe/Si復(fù)合襯底的表面情況。Si基襯底分子束外延后的CdTe薄膜表面不是很精密而是存在一些微觀凹坑，峰谷值P-V為···

原子力顯微鏡提供原子或近原子解析度的表面形貌圖像，能夠定量樣品的表面粗糙度到＂?＂等級(jí)。除了提供表面圖像之外，AFM也可以提供形態(tài)的定量測(cè)量，如···

微儀光電（天津）有限公司全力支持關(guān)于《中華人民共和國(guó)廣告法》實(shí)施的“極限化違禁詞”相關(guān)規(guī)定，且已竭力規(guī)避使用相關(guān)“違禁詞”（如*、佳、頂級(jí)）···

簡(jiǎn)單分析下原子力顯微鏡的結(jié)構(gòu)