AFM原子力顯微鏡是一種具有原子級別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡那樣觀察導體和半導體材料的表面現(xiàn)象

AFM原子力顯微鏡在材料研究中的應用介紹

?原子力顯微鏡是利用檢測樣品表面與細微的探針之間的相互作用力（原子力）測出表面的形貌。

原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。

AFM原子力顯微鏡是強大的石墨烯分析工具

原子力顯微鏡是一種強大的植物細胞壁成像工具，可以研究它們的結(jié)構(gòu)和微纖維的方向。這種類型的分析提供了對造紙和紙漿行業(yè)有用的見解。