由于該產(chǎn)品已進(jìn)行多次功能升級和更新迭代，我們不保證原子力顯微鏡（探頭掃描式） WY- LS-AFM提供的圖片和各項參數(shù)等信息完全一致，我們建議您點擊此處聯(lián)系我們的在線工程師為您服務(wù)，同時我們也歡迎您電話咨詢：4001-123-022

◆性能特點：
實現(xiàn)樣品保持不動，探針移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡。

樣品尺寸、重量幾乎不受限制，特別適合超大的樣品檢測。

樣品臺可拓展性強，非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實現(xiàn)原位檢測。

電動控制樣品移動臺和升降臺，可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測。

龍門架式掃描頭設(shè)計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺。
馬達(dá)自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護探針及樣品。
高倍輔助光學(xué)顯微定位，實時觀測與定位探針以及樣品掃描區(qū)域。

集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

◆測量范圍及應(yīng)用：

測量范圍：二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應(yīng)用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應(yīng)用案例 Application Case